半導(dǎo)體芯片環(huán)境可靠性檢測(cè)的核心儀器，圍繞溫濕度、振動(dòng)、高低溫、鹽霧、老化等，覆蓋芯片設(shè)計(jì)、封裝、成品全階段的可靠性驗(yàn)證，以下是相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)儀器推薦，匹配半導(dǎo)體芯片行業(yè)檢測(cè)需求：

　　可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

　　能夠同時(shí)滿足高濕與低濕的測(cè)試需求，執(zhí)行85C/85%RH等條件下的長(zhǎng)期老化，評(píng)估封裝密封性與抗腐蝕能力。

　　溫度范圍:-70C~+150C

　　濕度范圍:20%R.H~98%R.H

　　HAST高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

　　主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品，元器件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。

　　蒸汽溫度范圍:105C~147C

　　蒸汽濕度:75%R.H.~100%R.H.

　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱

　　在極短時(shí)間內(nèi)將樣品從高溫切換至低溫，加速熱應(yīng)力失效。產(chǎn)品分兩箱式、三箱式;兩箱式為提籃式，產(chǎn)品測(cè)試時(shí)為動(dòng)態(tài);三箱式分蓄冷室、蓄熱室和試驗(yàn)室，產(chǎn)品測(cè)試時(shí)為靜態(tài)。

　　溫度沖擊范圍:-65C~+150C

　　儲(chǔ)熱時(shí)間:RT~170C15min

　　儲(chǔ)冷時(shí)間:RT~-75C60min

　　快速溫變?cè)囼?yàn)箱

　　用于芯片在溫度快速變化或漸變條件下的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)和應(yīng)力篩選試驗(yàn)，驗(yàn)證芯片的耐久性。

　　溫度范圍:-70C~+150CF

　　升溫速率:-55C~+150C

　　線性:1-20C/min,可調(diào)(空載)

　　降溫速率:+150C~-55C

　　線性:1-20C/min,可調(diào)(空載)

　　三綜合振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)

　　海達(dá)儀器三綜合振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)將溫度、濕度、振動(dòng)、正弦振動(dòng)或隨機(jī)振動(dòng)以及電應(yīng)力按規(guī)定的周期綜合在同一氣候試驗(yàn)箱中施加到樣品上進(jìn)行溫度、濕度振動(dòng)的綜合試驗(yàn)。檢驗(yàn)試樣的各性能項(xiàng)指標(biāo)綜合環(huán)境可靠性試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)(RQC)、產(chǎn)品可靠性驗(yàn)收(PRAT)、例行試驗(yàn)、應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS)等。

　　溫度范圍:-70C~+150C

　　濕度范圍:20%RH~98%RH

　　最大正弦/隨機(jī)激振力:3kN、6kN、10kN、20kN、30kN、50kN接最大沖擊激振力:6kN、12kN、20kN、40kN、60kN、100kN頻率范圍:5HZ~3000HZ，5000Hz

　　最大加速度:100G(980m/s2)

　　額定荷載:300kg

　　最大速度:2m/s

　　機(jī)械沖擊試驗(yàn)儀

　　海達(dá)儀器機(jī)械沖擊試驗(yàn)儀可模擬芯片在生命周期中可能遭遇的瞬時(shí)沖擊載荷，驗(yàn)證結(jié)構(gòu)完整性、封裝可靠性和電性能穩(wěn)定性，篩選出設(shè)計(jì)或工藝缺陷，確保實(shí)際受沖擊場(chǎng)景下能正常工作。

　　跌落高度:0~1500mm

　　工作合面:350x350mm

　　脈沖持續(xù)時(shí)間:0.5~30ms

　　峰值加速度:20~1500g

　　最大負(fù)載:25kg

　　復(fù)合式鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱

　　海達(dá)儀器復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱支持NSS鹽水噴霧試驗(yàn)、AASS乙酸鹽霧試驗(yàn)、CASS銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、干燥試驗(yàn)、標(biāo)準(zhǔn)大氣候環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)條件或進(jìn)行其他組合的復(fù)合試驗(yàn)條件。評(píng)估樣品在高溫、濕熱、干燥、鹽霧等交變復(fù)合條件下環(huán)境中的耐腐蝕性(適用于戶外/海洋應(yīng)用)。

　　鹽霧沉降:1~2ml/80cm.hr2

　　溫度范圍:20C~65C

　　濕度范圍:25%RH~98%RH

　　篇噴霧方式:連續(xù)、周期、程序任選

　　高低溫低氣壓(濕熱)試驗(yàn)箱

　　海達(dá)儀器高低溫低氣壓(濕熱)試驗(yàn)箱模擬高海拔低壓環(huán)境下的測(cè)試環(huán)境，保證產(chǎn)品或材料在不同高度的可靠性。

　　壓力范圍:0.5kPa~101.3 kPa

　　溫度范圍:-70C~+150C

　　環(huán)境濕度:95%RH

　　濕度范圍:20%RH~98%RH

　　UV耐候試驗(yàn)箱

　　海達(dá)儀器UV耐候試驗(yàn)箱評(píng)估封裝材料(如環(huán)氧樹脂、熒光膠)在紫外線下的黃變、開裂等老化情況。

　　溫度范圍:RT+20C~70C

　　控制系統(tǒng):光照，冷凝和淋雨系統(tǒng)循環(huán)可調(diào)

　　UV燈光:4000小時(shí)運(yùn)行壽命

　　紫外線波長(zhǎng):290nm~400nm